EMC・電子計測分野 主な試験用設備の予約状況

更新時刻:2017/11/16 17:30:00

 (注意)この予約状況は、上記更新時刻での予約状況を示しています。
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 実験室が空いていても、担当者の不在やご使用条件等により、ご利用いただけない場合があります。
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2017年11月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 ×451
7
× × ×452
12
×452
11
×452
4
× × × ×453
3
×453
5
×453
1
午後 ×451
1
× × ×452
9
×452
10
×452
6
× × × ×453
3
×453
2
×453
5
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 ×451
31
× × ×452
15
×452
6
× × × ×453
8
×453
9
×453
7
午後 ×451
31
× × ×452
14
×452
15
×452
14
× × × ×453
8
×453
9
×453
7
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 ×451
31
× × ×452
13
×452
15
× ×452
15
× × ×453
11
×453
11
午後 ×451
31
× × ×452
13
×452
15
× ×452
15
× × ×453
11
×453
11


2017年12月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 ×453
4
× × ×454
4
×454
5
×454
6
×454
1
×454
1
× × ×455
3
×455
2
×455
4
×455
5
×455
5
× × ×456
2
×456
1
×456
6
×456
4
×456
5
× × ×457
5
×457
1
×457
4
×457
3
× × ×
午後 ×453
4
× × ×454
4
×454
5
×454
3
×454
1
×454
1
× × ×455
3
×455
2
×455
4
×455
5
×455
5
× × ×456
2
×456
1
×456
3
×456
4
×456
5
× × ×457
2
×457
1
×457
4
×457
3
× × ×
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 ×453
5
× × ×454
2
×454
2
×454
4
×454
1
×454
1
× × ×455
4
×455
3
×455
6
×455
6
×455
7
× × ×456
7
×456
4
× × ×457
2
× × ×
午後 ×453
5
× × ×454
2
×454
2
×454
4
×454
1
×454
1
× × ×455
4
×455
3
×455
6
×455
6
×455
7
× × ×456
7
×456
6
×456
4
× × × × ×
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 ×453
10
× × ×454
2
×454
1
×454
1
× × ×455
1
×455
31
×455
4
× × × × × × ×
午後 ×453
10
× × ×454
31
×454
2
×454
1
×454
1
× × ×455
1
×455
31
×455
4
× × × × × × ×


2018年1月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 × × × ×458
1
× × × ×459
1
×459
2
×459
3
× × ×460
1
×460
1
×460
1
× × × ×
午後 × × × ×458
1
× × × ×459
1
×459
2
×459
3
× × ×460
1
×460
1
×460
1
× × × ×
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 × × × × × × × × × × × ×
午後 × × × × × × × × × × × ×
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 × × × × × × × × × × × ×
午後 × × × × × × × × × × × ×


 部屋が空いていても、担当者の不在やご使用条件等により、ご利用いただけない場合があります。
 ご利用の場合は必ず下記までお問い合わせの上、予約をお願いいたします。


 お問い合わせ先 : 地方独立行政法人大阪産業技術研究所 総合受付 
               TEL 0725-51-2525  FAX 0725-51-2509