EMC技術開発支援センター 主な試験用設備の予約状況

更新時刻:2025/01/20 17:30:00

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2025年1月

試験室(装置名) 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
曜日
 第一電波暗室
放射EMI測定(10m法/3m法)
午前 ×826
4
×826
8
×826
3
×826
11
× × ×827
3
×827
7
×827
2
×827
4
×827
13
午後 ×826
4
×826
8
×826
3
×826
11
× × ×827
3
×827
9
×827
2
×827
4
×827
7
 第二電波暗室
RF放射電磁界イミュニティ試験
午前 ×826
23
×826
20
×826
14
×826
21
× × ×827
14
×827
15
×827
3
×827
12
×827
8
午後 ×826
19
×826
20
×826
14
×826
21
× × ×827
14
×827
15
×827
3
×827
12
×827
8
 EMIシールド室
雑音端子電圧測定、妨害電力測定
ラージループアンテナを使用する測定
午前 ×826
5
×826
3
×826
18
× × ×827
5
×827
41
×827
2
×827
11
×827
7
午後 ×826
26
×826
5
×826
3
×826
18
× × ×827
14
×827
7
×827
2
×827
11
×827
13
 EMSシールド室
静電気放電試験、RF伝導妨害試験、
ファーストトランジェント/バースト試験
午前 ×826
17
×826
9
×826
1
×826
31
× × ×827
10
×827
3
×827
1
×827
1
×827
11
午後 ×826
17
×826
9
×826
1
×826
31
× × ×827
10
×827
3
×827
1
×827
1
×827
11
 電源環境試験室
雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験、電力周波数イミュニティ試験
高調波/フリッカ測定
可変周波電源の機能を利用する試験
午前 ×826
22
×826
19
×826
13
× × ×827
5
×827
11
×827
16
×827
16
午後 ×826
19
×826
13
× × ×827
5
×827
5
×827
11
×827
16
×827
16
 精密電気測定室(C005)
ネットワークアナライザ
RFインピーダンスアナライザ
午前 ×826
41
×826
30
×826
24
× × ×827
6
午後 ×826
29
×826
28
×826
24
× × ×827
6
 電子材料測定室(C105)
シールド効果測定装置
午前 × × ×827
41
午後 × × ×827
41


2025年2月

試験室(装置名) 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28
曜日
 第一電波暗室
放射EMI測定(10m法/3m法)
午前 × × ×828
2
×828
41
×828
6
×828
41
×828
41
× × ×829
14
× ×829
7
×829
5
× × ×830
1
×830
9
×830
11
×830
3
× × × ×831
2
×831
3
午後 × × ×828
2
×828
4
×828
6
×828
41
×828
41
× × ×829
14
× ×829
7
×829
4
×829
5
× × ×830
1
×830
9
×830
5
×830
11
×830
11
× × × ×831
2
×831
3
 第二電波暗室
RF放射電磁界イミュニティ試験
午前 × × ×828
3
×828
3
×828
2
×828
41
×828
41
× × ×829
3
× ×829
2
×829
8
×829
8
× × ×830
6
×830
6
×830
6
×830
41
×830
41
× × × ×831
41
×831
41
×831
41
×831
41
午後 × × ×828
3
×828
3
×828
2
×828
41
×828
41
× × ×829
3
× ×829
2
×829
8
×829
8
× × ×830
6
×830
6
×830
6
×830
41
×830
41
× × × ×831
41
×831
41
×831
41
×831
41
 EMIシールド室
雑音端子電圧測定、妨害電力測定
ラージループアンテナを使用する測定
午前 × × ×828
9
×828
5
×828
41
×828
41
× × × ×829
13
× × ×830
13
×830
10
×830
15
×830
3
× × × ×831
3
×831
1
×831
4
午後 × × ×828
9
×828
5
×828
41
×828
41
× × ×829
11
× ×829
13
×829
13
× × ×830
2
×830
13
×830
5
×830
15
×830
8
× × × ×831
3
×831
4
 EMSシールド室
静電気放電試験、RF伝導妨害試験、
ファーストトランジェント/バースト試験
午前 × × ×828
3
×828
2
×828
6
×828
41
×828
41
× × ×829
9
× ×829
3
×829
5
×829
7
× × ×830
11
×830
7
×830
9
×830
12
×830
17
× × × ×831
1
×831
2
午後 × × ×828
3
×828
2
×828
6
×828
41
×828
41
× × ×829
9
× ×829
3
×829
5
×829
7
× × ×830
11
×830
7
×830
9
×830
12
×830
17
× × × ×831
1
×831
2
 電源環境試験室
雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験、電力周波数イミュニティ試験
高調波/フリッカ測定
可変周波電源の機能を利用する試験
午前 × × ×828
3
×828
7
×828
1
×828
41
×828
41
× × ×829
9
× ×829
10
×829
1
×829
12
× × ×830
12
×830
14
×830
4
×830
11
× × × ×831
6
×831
1
午後 × × ×828
3
×828
7
×828
1
×828
41
×828
41
× × ×829
9
× ×829
10
×829
1
×829
12
× × ×830
12
×830
14
×830
10
×830
4
×830
16
× × × ×831
6
 精密電気測定室(C005)
ネットワークアナライザ
RFインピーダンスアナライザ
午前 × × × × × × × × × × ×831
5
午後 × × × × × × × × × ×
 電子材料測定室(C105)
シールド効果測定装置
午前 × × × × × × × × × ×
午後 × × × × × × × × × ×


2025年3月

試験室(装置名) 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
曜日
 第一電波暗室
放射EMI測定(10m法/3m法)
午前 × × ×832
1
× × ×833
1
× × × × × × ×
午後 × × ×832
2
× × ×833
1
× × × × × × ×
 第二電波暗室
RF放射電磁界イミュニティ試験
午前 × × ×832
41
×832
41
×832
41
×832
41
×832
41
× × ×833
41
×833
2
×833
2
×833
4
× × × × × × ×
午後 × × ×832
41
×832
41
×832
41
×832
41
×832
41
× × ×833
41
×833
2
×833
2
× × × × × × ×
 EMIシールド室
雑音端子電圧測定、妨害電力測定
ラージループアンテナを使用する測定
午前 × × ×832
1
× × × × ×834
1
× × × × ×
午後 × × ×832
2
× × × × ×834
1
× × × × ×
 EMSシールド室
静電気放電試験、RF伝導妨害試験、
ファーストトランジェント/バースト試験
午前 × × × × ×833
1
×833
3
× × × × × × ×
午後 × × × × ×833
1
×833
4
× × × × × × ×
 電源環境試験室
雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験、電力周波数イミュニティ試験
高調波/フリッカ測定
可変周波電源の機能を利用する試験
午前 × × × × × × × × × × ×
午後 × × × × ×833
3
× × × × × × ×
 精密電気測定室(C005)
ネットワークアナライザ
RFインピーダンスアナライザ
午前 × × × × × × × × × × ×
午後 × × × × × × × × × × ×
 電子材料測定室(C105)
シールド効果測定装置
午前 × × × × × × × × × × ×
午後 × × × × × × × × × × ×


 部屋が空いていても、担当者の不在やご使用条件等により、ご利用いただけない場合があります。
 ご利用の場合は必ず下記までお問い合わせの上、予約をお願いいたします。


 お問い合わせ先 : 地方独立行政法人大阪産業技術研究所 総合受付 
               TEL 0725-51-2525  FAX 0725-51-2509

 受付時間 : 午前10時〜午後5時