EMC・電子計測分野 主な試験用設備の予約状況

 

平成30年3月1日より、新実験棟への設備移転のため、EMC試験設備がご利用いただけなくなります。
設備の供用再開は平成30年4月1日を予定しています。

更新時刻:2018/01/19 09:00:00

 (注意)この予約状況は、上記更新時刻での予約状況を示しています。
 そのため、最新の利用可能状況とは異なる場合がございます。ご了承下さい。

 実験室が空いていても、担当者の不在やご使用条件等により、ご利用いただけない場合があります。
 ご利用の場合は必ず下記までお問い合わせの上、予約をお願いいたします。

 実験室名をクリックしていただくと、部屋の詳細説明が表示されます。

  ○:ご利用いただけます、 ×:ご利用いただけません、 −:予約できません


2018年1月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 ×460
2
× × ×461
11
×461
10
×461
14
×461
13
×461
2
× × ×462
1
×462
3
×462
4
午後 ×460
2
× × ×461
11
×461
10
×461
14
×461
13
×461
2
× × ×462
1
×462
3
×462
4
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 ×460
3
× × ×461
12
×461
6
×461
7
×461
8
×461
4
× × ×462
6
×462
2
×462
8
午後 ×460
3
× × ×461
12
×461
6
×461
7
×461
8
×461
4
× × ×462
6
×462
2
×462
8
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 × × ×461
4
×461
9
×461
13
×461
31
×461
15
× × ×462
3
×462
6
×462
7
午後 × × ×461
4
×461
9
×461
13
×461
31
×461
15
× × ×462
3
×462
6
×462
7


2018年2月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 ×462
4
×462
5
× × ×463
8
×463
2
×463
3
×463
3
×463
4
× × × ×464
1
×464
2
×464
4
×464
6
× × ×465
1
×465
1
×465
8
×465
5
×465
5
× × ×466
2
×466
4
×466
7
午後 ×462
4
×462
5
× × ×463
8
×463
2
×463
3
×463
3
×463
4
× × × ×464
1
×464
2
×464
4
×464
6
× × ×465
1
×465
1
×465
8
×465
3
×465
5
× × ×466
2
×466
4
×466
5
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 ×462
9
×462
10
× × ×463
9
×463
2
×463
7
×463
5
×463
9
× × × ×464
7
×464
3
×464
8
×464
5
× × ×465
6
×465
6
×465
11
×465
11
×465
7
× × ×466
9
×466
3
×466
6
午後 ×462
9
×462
10
× × ×463
9
×463
2
×463
10
×463
5
×463
9
× × × ×464
7
×464
3
×464
8
×464
5
× × ×465
6
×465
6
×465
10
×465
10
×465
7
× × ×466
8
×466
3
×466
6
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 ×462
7
×462
7
× × ×463
10
×463
6
×463
6
× × × × × ×465
9
× × ×466
1
×466
1
×466
1
午後 ×462
7
×462
7
× × ×463
6
×463
6
× × × × × ×465
9
× × ×466
1
×466
1
×466
1


2018年3月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × ×
午後 × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × ×
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × ×
午後 × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × ×
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × ×
午後 × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × × ×


 部屋が空いていても、担当者の不在やご使用条件等により、ご利用いただけない場合があります。
 ご利用の場合は必ず下記までお問い合わせの上、予約をお願いいたします。


 お問い合わせ先 : 地方独立行政法人大阪産業技術研究所 総合受付 
               TEL 0725-51-2525  FAX 0725-51-2509