EMC・電子計測分野 主な試験用設備の予約状況

更新時刻:2017/09/19 09:00:00

 (注意)この予約状況は、上記更新時刻での予約状況を示しています。
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 実験室が空いていても、担当者の不在やご使用条件等により、ご利用いただけない場合があります。
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 実験室名をクリックしていただくと、部屋の詳細説明が表示されます。

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2017年9月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 ×443
3
×443
4
×443
1
× × ×444
2
×444
1
×444
6
×444
3
×444
15
×
午後 ×443
3
×443
4
×443
1
× × ×444
2
×444
1
×444
4
×444
3
×444
13
×
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 ×443
5
×443
6
×443
7
×443
1
× × ×444
18
×444
12
×
午後 ×443
5
×443
6
×443
7
×443
1
× × ×444
14
×444
11
×444
8
×444
9
×444
12
×
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 ×443
8
×443
11
×443
10
×443
14
× × ×444
19
×
午後 ×443
11
×443
10
×443
14
× × ×444
19
×444
3
×


2017年10月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 × ×445
4
×445
2
×445
1
×445
3
×445
6
× × × ×446
1
×446
5
×446
2
×446
3
× × ×447
5
×447
3
×447
2
×447
2
×447
6
× × ×448
8
×448
1
×448
7
×448
4
×448
5
× × ×449
1
×449
2
午後 × ×445
4
×445
2
×445
1
×445
3
×445
6
× × × ×446
1
×446
7
×446
2
×446
3
× × ×447
1
×447
3
×447
2
×447
2
×447
6
× × ×448
2
×448
1
×448
3
×448
4
×448
5
× × ×449
1
×449
2
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 × ×445
8
×445
5
×445
5
×445
7
×445
9
× × × ×446
31
×446
8
×446
6
×446
31
× × ×447
1
×447
8
×447
8
×447
9
×447
8
× × ×448
9
×448
6
×448
6
×448
6
× ×
午後 × ×445
8
×445
5
×445
5
×445
7
×445
9
× × × ×446
31
×446
5
×446
6
×446
31
× × ×447
8
×447
8
×447
9
×447
8
× × ×448
9
×448
6
×448
6
×448
6
× ×
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 × ×445
3
×445
7
× × × ×446
31
×446
8
×446
31
× × ×447
7
×447
7
×447
7
× × × ×
午後 × ×445
3
×445
7
× × × ×446
31
×446
8
×446
31
× × ×447
7
×447
7
×447
7
× × × ×


2017年11月

装置名 日付 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30
曜日
 
エミッション測定

放射EMI測定、雑音端子電圧測定
妨害電力測定、ラージループアンテナ測定
電波半無響室(5面暗室)を使用する試験

午前 ×449
3
×449
4
× × × ×450
2
×450
1
× × ×451
31
× × × × ×
午後 ×449
3
×449
4
× × × ×450
2
×450
1
× × ×451
1
× × × × ×
 
イミュニティ試験(I)

静電気放電試験、RF放射電磁界試験
ファーストトランジェント/バースト試験
RF伝導妨害試験、雑音許容度試験
電波全無響室(6面暗室)を使用する試験
午前 ×449
5
× × × × × ×451
31
× × × × ×
午後 ×449
5
× × × × × ×451
31
× × × × ×
 
イミュニティ試験(II)

雷サージ試験 (IEC規格・JEC規格)
電圧ディップ試験
耐アーク性試験機
可変周波電源の機能を利用する試験

午前 × × × × × ×451
31
× × × × ×
午後 × × × × × ×451
31
× × × × ×


 部屋が空いていても、担当者の不在やご使用条件等により、ご利用いただけない場合があります。
 ご利用の場合は必ず下記までお問い合わせの上、予約をお願いいたします。


 お問い合わせ先 : 地方独立行政法人大阪産業技術研究所 総合受付 
               TEL 0725-51-2525  FAX 0725-51-2509