氏名 | 対応技術分野 |
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主任研究員 | 稲村 偉 | セラミックス |
主任研究員 | 垣辻 篤 | 金属間化合物材料開発、粉末の加圧成形技術 |
主任研究員 | 渡辺 義人 | 酸化物系セラミックス材料 |
研究員 | 長谷川 泰則 | セラミックス |
番号 | 項目 | 試験条件 | 金額(円) | 備考 |
A203 | 蛍光X線分析(定性)元素指定 |
1試料 1成分 | 6,000 | 1成分増すごとに 2,500円加算 |
A204 | 蛍光X線分析(定性)全定性 | 1試料 | 12,500 | |
A207 | X線回折(測定) | 1試料 | 10,300 |
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A208 | X線回折(定性) | 1試料 | 17,600 | |
A284 | 粒度分布測定(レーザ回折散乱式―測定範囲0.02μm〜2mm) | 1試料 | 9,700 |
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番号 | 項目 | 試験条件 | 金額(円) | 備考 |
G303 |
ビッカース 硬さ | 1試験 | 4,300 | |
G304 |
ビッカース 硬さ分布 |
1試験 10箇所 | 7,200 |
番号 | 項目 | 試験条件 | 金額(円) | 備考 |
J202 | 気孔率(真比重、かさ比重及び吸水率を含む) | 1試験 | 7,300 | |
J203 | 細孔分布(ガス吸着) | 1試験 | 25,500 | |
J205 | 粒度分布又はゼータ電位測定(溶液に分散させたもの) | 1試験 | 9,400 | |
J206 | 3本ロールミルによる試料混練 | 1試料 | 12,300 | |
J207 | セラミックス3点曲げ試験 | 1試験 | 2,700 |
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番号 | 項目 | 試験条件 | 金額(円) | 備考 |
O401 | 熱間静水圧処理(HIP)1500℃から2000℃まで | 1件 | 240,200 | |
O402 | 熱間静水圧処理(HIP)1500℃未満 | 1件 | 173,900 | |
O403 | 冷間等方圧成形(CIP) | 1件 | 9,500 | |
O404 | 無機材料設計シミュレーション |
1件 1時間 | 8,000 | 1時間増すごとに 8,000円加算 |
O406 | セラミック焼成(シリコニット電気炉、1400℃以下) | 1件 | 9,000 |
番号 | 項目 | 単位 | 金額(円) |
A3010 | ビッカース硬度計 | 1時間 | 2,800 |
A3041 | ダイヤモンドワイヤソー | 1時間 | 2,200 |
A3069 | 粒度分布測定装置 | 半日 | 9,800 |
A9102 | 広帯域粒子径分布測定装置 | 半日 | 10,200 |
A9105 | 熱伝導率測定装置 | 時間 | 3,700 |
A3070 |
熱間静水圧処理装置(HIP) (1500℃から2000℃まで) | 半日 | 119,100 |
A3071 |
熱間静水圧処理装置(HIP) (1500℃未満) | 半日 | 84,800 |
A3072 | 冷間等方圧成形機(CIP) | 1日 | 19,000 |
A3074 | セラミック用押出し成形機 | 1日 | 10,200 |
A3075 | スプレードライヤ | 1日 | 9,400 |
A3079 | SEMサーボパルサ | 1日 | 59,300 |
A3082 | 3本ロールミル(ハイアルミナ製) | 半日 | 5,400 |
A3084 | 放電プラズマ焼結炉 | 半日 | 16,600 |
A3086 | セラミック用切断加工装置 | 半日 | 5,800 |
A3087 | セラミック用研削加工装置 | 半日 | 7,100 |
A3089 | 無機材料設計用ワークステーション | 1日 | 23,100 |
A3090 | 細孔分布測定装置(ガス吸着) | 1時間 | 1,800 |
A9109 | デジタルマイクロスコープ (VHX-1000) | 1時間 | 2,800 |
A9110 | ビーズミル式粉砕機 | 1日 | 17,300 |