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社団法人日本材料学会X線材料強度部門委員会研究・開発賞(技術)

受賞者

小栗 泰造

授与者 社団法人 日本材料学会X線材料強度部門委員会 委員長 秋庭義明
受賞日

平成21年2月20日

受賞対象テーマ

狭隘部のX線応力測定技術の開発

概要

 空間制限のある曲面部については、従来のX線応力測定法で非破壊残留 応力測定を行うことは困難であった。 受賞研究は、このような問題に対処し得る三種の新規な測定技術 ― 面積変化法、擬似ψ角変化法、および二軸傾斜法 ― に関するものである。面積変化法は、X線入射角を一定に保ったまま円弧状曲面上での照射面積を変えることにより当該部位の応力を測定するものである。擬似 ψ角変化法は、照射面積に代えて照射位置を変えることにより面積変化法と同一の目的を達成するものである。また、二軸傾斜法は、入射X線の傾斜方向を従来 法よりも多い二方向とすることにより、空間制限による情報減少を補って狭隘部の応力測定を可能とするものである。